5200系列霍爾效應便攜式高斯計代表了磁性測量設備的新設計。該設計采用了數字信號處理技術。F.W.Bell的動態探頭校正允許測量0至30 kg，基本精度為1%。主要功能包括自動調零，*小/*大/峰值保持，自動范圍和相對模式。兩種型號都允許用戶選擇高斯、特斯拉或安培/ 米讀數。5280和5270均具有校正模擬輸出(±3V FS)和USB通信端口。5200系列手持式高斯計的內置軟件消除了復雜的校準程序。定制格式LCD上的用戶提示允許快速、簡單的按鈕和觸摸操作。所有型號都配有可拆卸的橫向探頭、零高斯室、說明書、硬質手提箱和鋰離子充電電池。可選擇軸向、超薄橫向和低場探頭。應用程序：敏感的實驗室環境堅固的工業環境磁場強度驗證磁性部件/電機的測量北/南及性漏磁檢測美國BELL(貝爾) 5270/5280霍爾效應便攜式高斯計主要功能和優勢：4.3液晶觸摸屏聲音/亮度/黑暗模式控制使用鋰離子充電電池可使用10至14小時充電時間通常為2小時USB-C 2.0遠程PC控制選項512 kbit內部存儲器(5280)范圍內的音頻/視頻警報(5280)符合CE標準
170探頭型號 5180探頭型號HTH17-0604 4" Transverse ProbeSTH17-0404 4" Transverse Probe(incl. w/5170)扁形徑向探頭STH17-0402 2" Transverse ProbeSAH17-1904 4" Axial Probe園形軸向探頭SAH17-1902 2" Axial ProbeSTB1X-0201 Ultra Thin Probe (0.020" thick)HTD18-0604 4" Transverse ProbeSTD18-0404 4" Transverse Probe(incl. w/5180) 扁形徑向探頭STD18-0402 2" Transverse ProbeSAD18-1904 4" Axial Probe園形軸向探頭SAD18-1902 2" Axial ProbeSTB1X-0201 Ultra Thin Probe(0.020" thick)
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